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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:ATX2201覆層測(cè)厚儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 產(chǎn)品廠商:北京時(shí)代光南檢測(cè)技術(shù)有限公司
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
ATX2201覆層測(cè)厚儀是一款便攜式涂鍍層測(cè)量?jī)x,它能快速、無損傷、精密的進(jìn)行涂鍍層、覆層厚度的測(cè)量。即可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過更換不同的側(cè)頭,還可以滿足多種測(cè)量的需要。ATX2201 覆層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專用必備的儀器。
詳情介紹:

ATX2201 覆層測(cè)厚儀概述

       ATX2201覆層測(cè)厚儀是一款便攜式涂鍍層測(cè)量?jī)x,它能快速、無損傷、精密的進(jìn)行涂鍍層、覆層厚度的測(cè)量。即可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過更換不同的側(cè)頭,還可以滿足多種測(cè)量的需要。ATX2201 覆層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專用必備的儀器。

ATX2201覆層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn):


  • GB/T4956-1985 磁性方法
  • GB/T4957-1985 渦流方法
  • JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀
  • JJG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》
  • JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》


ATX2201覆層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)

l  采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法:既然無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)又可測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)

l  可使用9種測(cè)頭(F400、F05、F1、F1/90°、F3、F10、N400、N1、N3)

l  具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)

l  具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)

l  設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差

l  可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正

l  具有存貯功能:可存貯500個(gè)測(cè)量值

l  具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)

l  可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警

l  具有電源欠壓指示功能

l  操作過程有蜂鳴聲提示

l  具有錯(cuò)誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示

l  設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式

l  采用塑料外殼,輕便、耐用

ATX2201覆層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

l  測(cè)頭類型:可選,見涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)表

l  測(cè)量范圍:

1、0-1250um (F1、F1/90、N1) 0-40um(N1、N400探頭 銅上鍍鉻)

2、0-400 um(F400和N400)

3、0-500 um(F05)

4、0-3000 um(F3、N3)

5、0-10000 um(F10)

l  低限分辨力:0.1um

l  探頭連接方式:分體

l  示值誤差:F | N

            1.  一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[2%H+1]
            2.  兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1]
            3.  一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[2%H+1.5]
            4.  兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1.5]

l  測(cè)量條件:F | N

           1.  最小曲率半徑(mm):凸1.5 | 凹9
           2.  基體最小面積的直徑(mm):ф7 (F10探頭 ф40)
           3. 
最小臨界厚度(mm):0.5
           4.  最小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
           5.  基體最小面積的直徑(mm):ф5
           6.  最小臨界厚度(mm):0.3

l  溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH

l  統(tǒng)計(jì)功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差

l  工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)

l  測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)

l  上下限設(shè)置:有

l  存儲(chǔ)能力:500個(gè)測(cè)量值

l  關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)和自動(dòng)

l  電源:兩節(jié)1.5v電池

l  外形尺寸:50×120×25mm

l  重量:400g

ATX2201 覆層測(cè)厚儀基本配置

ATX2201 覆層測(cè)厚儀主機(jī)

l  F測(cè)頭或N測(cè)頭

l  標(biāo)準(zhǔn)片一套

l  鐵基體或鋁基體

l  電池

l  使用說明書

可選,見涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)表如下

F型:

探頭型號(hào)

F400

F05

F1/F1/90°

F3

F10

工作原理

        應(yīng)

測(cè)量范圍(mm)

0400

0500

01500

03000

010000

低限分辨力(mm)

0.1

0.1

0.1

0.1

1

示值

誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

±(3%H+0.7)

±(3%H+0.7)

±(3%H+1)

±(3%H+1)

±(3%H+10)

二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

±(1%H+0.7)

± (1%H+0.7)

± (1%H+1)

± (1%H+1)

±(1%H+10)

測(cè)試

條件

最小曲率半徑(mm)

1

1

1.5

平直

5

10

最小面積的直徑(mm)

F3

F3

F7

F10

F40

基體臨界厚度(mm)

0.2

0.2

0.5

1

2

                                                                                                                             












N型

探頭型號(hào)

N400

N1

N3

工作原理

   

測(cè)量范圍(mm)

 ( 銅上鍍鉻  040)

 
0400

01500

03000

低限分辨力(mm)

0.1

0.1

1

示值

誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

±(3%H+0.7)

±(3%H+1.5)

±(3%H+3)

二點(diǎn)校準(zhǔn)(mm)

±(1%H+1)

±1%H+1.5

±(3%H+3)

測(cè)試

條件

最小曲率半徑(mm)

1.5

3

6

最小面積的直徑(mm)

F4

F5

F7

基體臨界厚度(mm)

0.3

0.3

1

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