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ATX270涂層測(cè)厚儀

日期:2024-08-20 20:38
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摘要: ATX270涂層測(cè)厚儀\鍍層測(cè)厚儀是一款便攜式涂鍍層測(cè)量?jī)x,它能快速、無損傷、精密的進(jìn)行涂鍍層厚度的測(cè)量。即可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過更換不同的側(cè)頭,還可以滿足多種測(cè)量的需要。ATX220涂層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專用必備的儀器。 ATX270涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn): GB/T4956-1985 磁性方法 GB/T4957-1985 渦流方法 JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀 JJG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》
ATX270涂層測(cè)厚儀概述
       ATX270涂層測(cè)厚儀\鍍層測(cè)厚儀是一款便攜式涂鍍層測(cè)量?jī)x,它能快速、無損傷、精密的進(jìn)行涂鍍層厚度的測(cè)量。即可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過更換不同的側(cè)頭,還可以滿足多種測(cè)量的需要。ATX220涂層測(cè)厚儀能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專用必備的儀器。

ATX270涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn):

  • GB/T4956-1985 磁性方法
  • GB/T4957-1985 渦流方法
  • JB/T8393-1996 磁性和渦流覆層測(cè)厚儀
  • JJG889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》
  • JJG818-93 《電渦流式測(cè)厚儀》

ATX270涂層測(cè)厚儀

ATX270涂層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)
  • 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法:既然無損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金等)上非磁性覆層厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)又可測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽極氧化膜等)
  • 可使用7種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
  • 具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)
  • 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)
  • 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差
  • 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
  • 具有打印功能,可以隨時(shí)打印測(cè)量值
  • 具有存貯功能:可存貯600個(gè)測(cè)量值
  • 具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
  • 可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警
  • 具有電源欠壓指示功能
  • 操作過程有蜂鳴聲提示
  • 具有錯(cuò)誤提示功能,通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示
  • 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式
ATX270涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
  • 測(cè)頭類型:可選,見涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)表
  • 測(cè)量原理:磁感應(yīng)和電渦流
  • 測(cè)量范圍:0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
  • 低限分辨力:0.1um
  • 探頭連接方式:分體
  • 示值誤差:F | N
            1.  一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[2%H+1]
            2.  兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1]
            3.  一點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[2%H+1.5]
            4.  兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um):±[(1%~3%)H+1.5]

  • 測(cè)量條件:F | N
           1.  *小曲率半徑(mm):凸1.5 | 凹9
           2.  基體*小面積的直徑(mm):ф7
           3.  *小臨界厚度(mm):0.5
           4.  *小曲率半徑(mm):凸3 | 凹10
           5.  基體*小面積的直徑(mm):ф5
           6.  *小臨界厚度(mm):0.3
  • 溫濕度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
  • 統(tǒng)計(jì)功能:平均值、*大值(MAX)、*小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差
  • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
  • 測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)
  • 上下限設(shè)置:有
  • 存儲(chǔ)能力:600個(gè)測(cè)量值
  • 關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)和自動(dòng)
  • 電源:充電電池
  • 外形尺寸:50×120×25mm
  • 重量:400g
ATX270涂層測(cè)厚儀基本配置
  • ATX270涂層測(cè)厚儀主機(jī)
  • F測(cè)頭或N測(cè)頭
  • 標(biāo)準(zhǔn)片一套
  • 鐵基體或鋁基體
  • 電池
  • 使用說明書

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