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時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀
日期：2024-08-21 00:11
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摘要： 時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)xJJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》。可以廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀概述
時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。通過使用不同的測(cè)頭，還可滿足多種測(cè)量的需要。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)xJJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》?？梢?/span>廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀功能特點(diǎn)
- 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
- 可使用8種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F3、F5、F10、N1、CN02)；
- 具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
- 具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
- 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)量次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
- 可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
- 具有存貯功能：可存貯640個(gè)測(cè)量值；
- 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
- 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
- 具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
- 具有電源欠壓指示功能；
- 操作過程有蜂鳴聲提示；
- 具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
- 設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
- 測(cè)頭類型：可選，見涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)表
- 測(cè)量原理：磁感應(yīng)和電渦流
- 測(cè)量范圍：0-1250um | 0-1250um 0-40um(銅上鍍鉻)
- 低限分辨力：0.1um
- 探頭連接方式：分體
- 示值誤差：F | N
- 1. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1]
-
- 2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]
-
- 3. 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1.5]
-
- 4. 兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測(cè)量條件：F | N
- 1. 最小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9
-
- 2. 基體最小面積的直徑(mm)：ф7
-
- 3. 最小臨界厚度(mm)：0.5
-
- 4. 最小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
-
- 5. 基體最小面積的直徑(mm)：ф5
-
- 6. 最小臨界厚度(mm)：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統(tǒng)計(jì)功能：平均值、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
- 工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
- 測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
- 上下限設(shè)置：有
- 存儲(chǔ)能力：640個(gè)測(cè)量值
- 關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)和自動(dòng)
- 電源：充電電池
時(shí)代TIME2601涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)
| 測(cè)頭型號(hào) | F400 | F1 | F1/90° | F3 | F5 | F10 | N1 | CN02 | ||
| 測(cè)量范圍(um) | 0～400 | 0～1250 | 0～1250 | 0-3000 | 0-5000 | 0～10000 | 0～1250(銅上鍍鉻0～40) | 10～200 | ||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 1 | 1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| 示值 | 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1.5) | ±(3%H+1) | ||
| 誤差 | 二點(diǎn)校準(zhǔn)(um) | ±((1～3)%H+0.7) | ±((1～3)%H+1) | ±((1～3)%H+3) | ±((1～3)%H+5) | ±((1～3)%H+10) | ±[(1～3)%H+1.5] | |||
|
測(cè) 試 條 件 |
zui小曲率半徑(mm) | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 10 | 3 | 僅為平直 | ||
| zui小面積的直徑(mm) | F3 | F7 | F7 | F40 | F5 | F7 | ||||
| 基體臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無限制 | ||||
注：H——標(biāo)稱值
測(cè)頭選用參考表：
測(cè)頭選用參考表：
|
覆蓋層 基體 |
有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等） |
非磁性的有色金屬的覆層 （如鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） |
|||
| 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | ||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積的直徑大于30mm |
F1型測(cè)頭0-1250μm F400型測(cè)頭0-400μm |
F1型測(cè)頭0-1250μm F10型測(cè)頭0-10mm |
F400型測(cè)頭0-400μm F1型測(cè)頭0-1250μm |
F1型測(cè)頭0-1250μm F10型測(cè)頭0-10mm |
| 被測(cè)面積的直徑小于30mm | F400型測(cè)頭0-400μm |
F1型測(cè)頭0-1250μm F400型測(cè)頭0-400μm |
F400型測(cè)頭0-400μm |
F400型測(cè)頭0-400μm F1型測(cè)頭0-1250μm |
|
| 如銅、黃銅、鋁、鋅、錫等有色金屬 | 被測(cè)面積的直徑大于5mm | N1型測(cè)頭0-1250μm | N1型測(cè)頭只能測(cè)銅上鍍鉻0-40μm | ||
| 塑料、印刷線路板等非金屬基體 | 被測(cè)面積的直徑小于7mm | - | - |
CN02型測(cè)頭10-200μm （主要用途測(cè)銅箔厚度） |
|
時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀基本配置
- 時(shí)代TIME2601涂層測(cè)厚儀主機(jī)
- 打印機(jī)
- F頭或N頭
- 標(biāo)準(zhǔn)片一套
- 鐵基體或鋁基體
- 充電器
- 使用說明書
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