ATX200N氧化膜測(cè)厚儀概況

ATX200N氧化膜測(cè)厚儀配置嵌入式傳感器，采用電渦流法，可用于無(wú)損測(cè)量非磁性基體上非導(dǎo)電涂層厚度，符合以下工業(yè)規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 4957非磁基體上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量渦流法， JB/T 8393磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x DIN EN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、穩(wěn)定，簡(jiǎn)單、可靠、可用于現(xiàn)場(chǎng)快速測(cè)量等特點(diǎn)，配置集成測(cè)量探頭，可無(wú)損、快速、精密地進(jìn)行非磁性金屬表面非導(dǎo)電涂層厚度測(cè)量，易于操作，廣泛應(yīng)用于工業(yè)、船舶、橋梁、航空、工程、化工等領(lǐng)域。

ATX200N涂層測(cè)厚儀原理

ATX200N氧化膜測(cè)厚儀的工作原理是當(dāng)測(cè)頭靠近金屬基體時(shí)，由于高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生了電磁場(chǎng)，金屬基體會(huì)形成電渦流并對(duì)線圈產(chǎn)生反饋，隨后通過(guò)測(cè)量反饋量的大小可推導(dǎo)出相對(duì)應(yīng)的厚度值。

測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層厚度(如:橡膠、油漆、陽(yáng)極氧化膜等)

ATX200N氧化膜測(cè)厚儀儀技術(shù)參數(shù)

l  測(cè)量范圍:0-1250um(0-50mil)

l  分辨率:0-999um;0.1um          ≥1000um;1um

l  精度:≤100um;±2um          101-1250um;≤2.5%

l  數(shù)據(jù)存儲(chǔ):500 條

l  顯示:帶背光點(diǎn)陣液晶屏(128X64)

l  電源:1.5VX3(AAA 干電池)

l  使用溫度:0-50°C

l  規(guī)格:128X51X31 mm

l  重量:110g

ATX200N氧化膜測(cè)厚儀基本配置